冷熱沖擊試驗(yàn)箱程序控制結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)與工作原理

三箱式核心結(jié)構(gòu)

• 高溫箱：提供高溫環(huán)境（通常溫度可達(dá) 150℃~200℃），采用電加熱方式控溫。

• 低溫箱：提供低溫環(huán)境（通常溫度可達(dá) - 40℃~-70℃，部分設(shè)備可達(dá) - 100℃），通過(guò)壓縮機(jī)冷凍系統(tǒng)制冷。

• 測(cè)試箱（中溫箱）：放置被測(cè)樣品，通過(guò)氣動(dòng)或電動(dòng)風(fēng)門切換，使樣品在高溫箱、低溫箱之間快速轉(zhuǎn)移，實(shí)現(xiàn)溫度沖擊。

工作原理

• 非接觸式?jīng)_擊：樣品不直接進(jìn)入高溫 / 低溫箱，而是通過(guò)風(fēng)門切換讓高溫 / 低溫氣流進(jìn)入測(cè)試箱，或通過(guò)機(jī)械臂將樣品在三箱間快速移動(dòng)（移動(dòng)時(shí)間通常≤10 秒），避免樣品在轉(zhuǎn)移過(guò)程中受環(huán)境溫度干擾，保證沖擊精度。

• 控溫邏輯：通過(guò) PLC 或觸摸屏控制系統(tǒng)設(shè)定溫度范圍、沖擊時(shí)間、循環(huán)次數(shù)等參數(shù)，配合傳感器實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)并調(diào)節(jié)溫度，實(shí)現(xiàn)高精度控制（溫度偏差通常≤±2℃，溫變速率可達(dá) 10℃~30℃/ 分鐘）。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱程序控制應(yīng)用領(lǐng)域與測(cè)試對(duì)象

• 電子電器：芯片、PCB 板、傳感器、連接器、LED 燈具等，測(cè)試溫度突變對(duì)電路性能、焊點(diǎn)可靠性的影響。

• 汽車工業(yè)：車載電子元件、橡膠密封件、線束等，滿足 ISO 16750、GB/T 28046 等標(biāo)準(zhǔn)的環(huán)境可靠性測(cè)試。

• 航空航天：航空電子設(shè)備、航天器零部件，模擬高空環(huán)境下的溫度沖擊。

• 材料研究：塑料、金屬、復(fù)合材料等，評(píng)估熱脹冷縮對(duì)材料結(jié)構(gòu)、力學(xué)性能的影響（如開裂、變形）。